EN

新闻中心

你所在的位置:首页新闻中心公司新闻

2019年度西安地区集成电路测试技术研讨会

2019-12-04 3794

2019年度西安地区集成电路测试技术研讨会圆满结束。会议为期3天(11月27日至29日),由开云手机在线登入主办,陕西省半导体行业协会协办。微电子技术研究所、君信电子、西测电子、等十余家的器件生产厂家、元器件检测筛选中心的三十多位专家及测试工程师参加了本次研讨会。

随着国内半导体行业的飞速发展,测试对象的复杂程度与日俱增,对测试设备及测试技术提出了更高的要求。针对器件测试的难点和痛点,结合真实测试样例,与会人员讨论热烈。

开云手机在线登入技术主管周昊鹏基于STS 8205混合信号测试平台,结合典型样例,与大家分享了运算放大器、脉宽调制器及电压调整器等类别器件的测试技术成果。基于STS6100超大规模集成电路测试平台,资深工程师于松涛与参会的专家及技术人员探讨分享了CMOS电路的测试技术。

20191204144814341434.jpg

20191204144866626662.jpg

会员登录

期待您成为我们的会员!

用户名 *

密码 *

立即登录用户注册 忘记密码
会员注册

请认真填写您的资料*

用户名 *

密码 * (6-20个字符)

重复密码 *

姓名 *

职务

地址

传真

公司名称 *

电话 *

E-mail *

立即注册去登录
找回密码

请输入您的邮箱找回密码!

邮箱 *

验证码 *

下一步
已发送密码重置邮件到您的注册邮箱,请点击密码重置链接修改密码!

如果您有疑问请 联系我们

返回首页
会员注册成功!请等待我们的审核!

如果您有疑问请 联系我们

返回首页